シリコンウェーハ Silicon wafer

2-12インチシリコンウェーハ

シリコンウェーハは半導体集積回路の主要素材であり、生産量が多いのは単結晶シリコンウェーハです。柱状のインゴットが精錬され、スライス、研磨を経て、厚さが一定した鏡のようなシリコンウェーハになります。シリコンウェーハは導電しませんが、適切にイオンを加えると正負の電極ができ、電子の流れを制御できるようになります。半導体にはN型とP型があります。N型は電子が多すぎるので(自由電子という)、電子が自由に流れます。P型は電子が不足した状態により形成された正孔(ホール)で、正孔の不足を補うため、電子が自由に移動して電流が発生します。(叫做自由電子),可以使達到電子自由流通目的,另外P型半導體是電子不足的狀態所形成之電孔,為了彌補電孔之不足,會使電子自由移動而產生電流。

仕様

銳隆シリコンウェーハ【インチ別齊全】2インチ/3インチ/4インチ/5インチ/6インチ/8インチ/12インチ

銳隆シリコンウェーハ【規格齊全】P/N/無摻雜/100/111/110/0.0001-20000Ω·cm

銳隆シリコンウェーハ【厚度齊全】50um/100um/200um/300um/400um/525um/725um/1mm/2mm

銳隆シリコンウェーハ【客製化鍍膜】単面双面オキシデーション自選, オキシデーション層厚さ自選,鍍膜種類厚さ自選。

銳隆シリコンウェーハ【客製化カット】サイズ形状自選1mm*1mm~200*200mm

銳隆シリコンウェーハ【種類齊全】単双研磨単オキシデーション.単双研磨単窒化.シリコンオキシド片.窒化シリコン片.SOIシリコン/銅ニッケル金プラチナシリコン片鍍膜/砷化ガリウム等III-V族とゲルマニウム片。

適用産業

集積回路半導体の原料、DRAM、フォトダイオード、分離型ユニット、ソーラー電池の基板、エレクトロニクス製品ユニット、半導体ユニット、チップ出力半導体,電源管理、MEMS、LCD ドライバー IC、指紋識別、組込み型メモリー、CMOS、モバイル通信、自動車用エレクトロニクス、IoT、産業用エレクトロニクス等の分野。

シリコンウェーハはカスタマイズ可能
サイズ 研磨 モデル 結晶方位 抵抗率Ω・cm 厚度微米
2 片面鏡面仕上げ/両面鏡面仕上げ P/N/未ドープ 100/110/111 低抵抗0-20/高抵抗5000-20000 400±25
4 片面鏡面仕上げ/両面鏡面仕上げ P/N/未ドープ 100/110/111 低抵抗0-100/高抵抗5000-20000 525±25
6 片面鏡面仕上げ/両面鏡面仕上げ P/N/未ドープ 100/110/111 低抵抗0-100/高抵抗5000-20000 675±25
8 片面鏡面仕上げ/両面鏡面仕上げ P/N/未ドープ 100/110/111 低抵抗0-100/高抵抗5000-20000 725±25
12 片面鏡面仕上げ/両面鏡面仕上げ P/N/未ドープ 100/110/111 低抵抗0-100/高抵抗5000-20000 725±25

カスタマイズウェーハ塗膜

Bare wafer/Dummy wafer/coin-roll/Test wafer 2-12 inchウェーハ成膜、クロム(Cr)/アルミ(Al)/モリブデン(Mo)/シリコン(Si)/銅(Cu)/チタン(Ti)によるウェーハガラス成膜Bare wafer/Dummy wafer/coin-roll/Test wafer 2-12 inchウェーハ成膜、クロム(Cr)/アルミ(Al)/モリブデン(Mo)/シリコン(Si)/銅(Cu)/チタン(Ti)によるウェーハガラス成膜加工。テストウェーハ(Test wafer . Dummy wafer)、プライムウェーハ(prime wafer)、エピウェーハ(epi wafer)、加工シリコンチップ(Coating Si + oxide wafer)、アルミ成膜ウェーハ(Al wafer)、金成膜ウェーハ(Au wafer)、SOI wafer、SOC wafer。

適用産業

集積回路半導体の原料、DRAM、フォトダイオード、分離型ユニット、ソーラー電池の基板、エレクトロニクス製品ユニット、半導体ユニット、チップ出力半導体,電源管理、MEMS、LCD ドライバー IC、指紋識別、組込み型メモリー、CMOS等。

ウェーハ成膜はカスタマイズ可能 (Cr/Mo/Cu/Sn/Ti/Sio2/Si3N4)

2-12インチウェーハケース

カセットケース/ウェーハケース/ウェーハ搬送フープ/ウェーハキャリアーは、清潔な密封隔離容器で、ウェーハを保存し、ウェーハの衝突、摩擦を防止し、汚れるリスクを低減し、安全を確保して、特殊な保存ニーズ、輸送または出荷に対する要求を満たします。ケースはサイズごとにシリコンウェーハ/石英/ガラス/サファイアを入れられます。

適用産業

ウェーハ保存、企業ラボ、学術ラボ、国家ラボ、クリーンルーム、半導体、光電、ソーラー電池、エレクトロニクス、パネル、ソーラー、LED等の分野。

種類 2インチ 4インチ 5インチ 6インチ 8インチ 12インチ
シングルケース
 
   
カセットケース25枚入り
 
ウェーハケース 25枚入り  
ウェーハケース 50枚入り  
8インチ六角形1枚サンプルケース        
 
8インチ四角形1枚サンプルケース        
 
12インチ四角形シングルケース          

ガラスウェーハ

半導体ウェーハガラス2インチ/4インチ/6インチ/8インチ/12インチ/。Wafer Glassは顧客が指定したガラス材を用いた超薄型ガラスウェーハで、マイクロ装置と光電産業で使われます。直径レンジ50mmから300mm、厚さレンジ0.2mmから1.8mm、高精度CNCおよび最先端レーザー設備で製作します。サイズ公差、TTV、いずれも優れています。

顧客のニーズに従って全面的なカスタマイズ加工が可能。ガラスの種類/厚さ/サイズを指定して加工

ガラス種類:導電性、光学、無アルカリ、石英、BK7、BK9、B270、Engle2000、EXG、D263といった各種ガラス。

適用産業

半導体産業、ウェーハ受託製造、ウェーハパッケージング試験、半導体設備、半導体関連に応用。

顧客のニーズに従ってガラスの種類/厚さ/サイズを指定してガラスウェーハ製造
  2インチ 4インチ 6インチ 8インチ 12インチ
導電性ガラス
光学ガラス
無アルカリガラス
石英ガラス
顧客指定の材質

第三世代炭化ケイ素ウエハー

第三世代半導体とは、窒化ガリウム(GaN)および炭化ケイ素(SiC) などの化合物半導体材料を指します。第一世代半導体(シリコン Si・ゲルマニウム Ge)や、第二世代半導体(ガリウムヒ素 GaAs・インジウムリン InP)と比べ、SiC と GaN はより優れた物理的および電気的特性を持っています。これら二つの材料は適用分野がやや異なります。GaN デバイスは主に 900V 以下の低電圧分野で使用され、SiC デバイスは最大 1,200V 以上の高電圧分野に適しています。第三世代半導体は高周波・高温環境でも優れた性能と安定性を維持し、スイッチング速度が速く、小型で放熱性に優れていることが特徴です。これによりチップ面積を大幅に削減でき、周辺回路の設計を簡略化し、モジュールの小型化や冷却システムの効率向上に貢献します。

適用産業

GaN は高周波・高出力用途に、SiC は高電圧・高効率システムに適しています。これらの材料は、電気自動車・5G 通信・航空宇宙、今後の成長産業に広く活用されています。

4 Inch 4H N-type SIC
Ultra Grade Production Grade Dummy Grade
Diameter 100mm+0.0/-0.5mm
Surface Orientation Off-axis 4.0° toward<1120>±0.5°
Primary Flat Orientation <1100>±5.0°
Primary Flat Length 32.5mm±2.0mm
Secondary Flat Orientation 90.0° CW from Primary Flat±5.0° ,Silicon Face Up
Secondary Flat Length 18.0mm±2.0mm
Wafer Edge Chamfer
Micropipe Density ≦1 micropipes/cm2 ≦5 micropipes/cm2 ≦10 micropipes/cm2
4 Inch 4H SI SIC
Ultra Grade Production Grade Dummy Grade
Diameter 100mm+0.0/-0.5mm
Surface Orientation On-axis <0001>±0.5°
Primary Flat Orientation <1100>±5.0°
Primary Flat Length 32.5mm±2.0mm
Secondary Flat Orientation 90.0° CW from Primary Flat±5.0° ,Silicon Face Up
Secondary Flat Length 18.0mm±2.0mm
Wafer Edge Chamfer
Micropipe Density ≦1 micropipes/cm2 ≦5 micropipes/cm2 ≦20 micropipes/cm2
6 Inch 4H N-type SIC
Ultra Grade Production Grade Dummy Grade
Diameter 150mm±0.25mm
Surface Orientation Off-axis 4.0° toward<1120>±0.5°
Primary Flat Orientation <1100>±5.0°
Primary Flat Length 47.5mm±2.0mm
Wafer Edge Chamfer
Micropipe Density ≦1 micropipes/cm2 ≦5 micropipes/cm2 ≦10 micropipes/cm2
6 Inch 4H SI SIC
Ultra Grade Production Grade Dummy Grade
Diameter 150mm±0.25mm
Surface Orientation [0001]±0.25°
Primary Flat Orientation <1100>±5.0°
Primary Flat Length 1.0mm±0.25mm
Wafer Edge Chamfer
Micropipe Density ≦1 micropipes/cm2 ≦5 micropipes/cm2 ≦35 micropipes/cm2